Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств
21. Лекция 19. Методы генерации тестов PODEM, FAN и Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств
Поставить закладку
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 5 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
3. Лекция 1. Уровни и области моделирования
4. Лекция 2. Модели цифровых устройств
5. Лекция 3. Логическое моделирование
6. Лекция 4. Модели логических элементов
7. Лекция 5. Машинные модели логических схем и управление процессом моделирования
8. Лекция 6. Анализ состязаний
9. Лекция 7. Система многозначных алфавитов и функций
10. Лекция 8. Физические дефекты и неисправности
11. Лекция 9. Константные неисправности
12. Лекция 10. Неконстантные неисправности
13. Лекция 11. Последовательное и параллельное моделирование неисправностей
14. Лекция 12. Дедуктивный метод моделирования неисправностей
15. Лекция 13. Конкурентный и дифференциальный метод моделирования неисправностей
16. Лекция 14. Моделирование неисправностей задержек распространения сигналов
17. Лекция 15. Приближенные методы моделирования неисправностей
18. Лекция 16. Синтез тестов для комбинационных схем
19. Лекция 17. Синтез тестов для заданной неисправности
20. Лекция 18. Многомерная активизация путей в шестизначном алфавите
21. Лекция 19. Методы генерации тестов PODEM, FAN и Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств
22. Лекция 20. Построение тестов с использованием алфавитов большой значности
23. Лекция 21. Выполнимость булевых функций и бинарные диаграммы в построении тестов
24. Лекция 22. Построение тестов для устройств с памятью на основе экспериментов с автоматами
25. Лекция 23. Структурное построение тестов для устройств с памятью
26. Лекция 24. Влияние стратегий наблюдения выходных сигналов на построение тестов для схем с памятью
27. Лекция 25. Эволюционные методы генерации тестов
28. Лекция 26. Методы компактного тестирования
29. Лекция 27. Представление диагностической информации
30. Лекция 28. Словари неисправностей и способы их организации
31. Лекция 29. Сокращение диагностической информации при помощи масок
32. Лекция 30. Оценка эффективности генетических алгоритмов поиска масок
33. Лекция 31. Жадные алгоритмы поиска масок
34. Лекция 32. Жадный алгоритм поиска индивидуальных масок
35. Лекция 33. Экспериментальные результаты апробации жадных алгоритмов
36. Лекция 34. Сокращение диагностической информации с использованием хеш-функций
37. Список литературы
Данный блок поддерживает скрол*