Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Наноматериалы для радиоэлектронных средств. - Ч. 2: Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа: Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств"
Работа № 5. Измерение спектра электронных состояний в наноматериалах с помощью СТМ
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Предисловие
Работа № 5. Измерение спектра электронных состояний в наноматериалах с помощью СТМ
-
5.1. Теоретическая часть
5.2. Расчетная часть
5.3. Экспериментальная часть
5.4. Контрольные вопросы
Работа № 6. Измерение эффективной работы выхода квазижидких нанослоев с помощью СТМ
+
Работа № 7. Измерение шумовых и фрактальных характеристик квазижидких нанослоев с помощью СТМ
+
Данный блок поддерживает скрол*