Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Наноматериалы для радиоэлектронных средств. - Ч. 1: Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов: Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств"
Работа № 1. ИЗМЕРЕНИЕ ЧАСТОТНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПРЕДУСИЛИТЕЛЯ СТМ
Поставить закладку
1.1. Теоретическая часть
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Предисловие
Работа № 1. ИЗМЕРЕНИЕ ЧАСТОТНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПРЕДУСИЛИТЕЛЯ СТМ
-
1.1. Теоретическая часть
1.2. Расчетная часть
1.3. Экспериментальная часть
1.4. Контрольные вопросы
Работа № 2. ИЗМЕРЕНИЕ ЧАСТОТНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ВЫСОКОВОЛЬТНОГО УСИЛИТЕЛЯ СТМ
+
Работа № 3. ИЗМЕРЕНИЕ ВРЕМЕННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ИНЕРЦИАЛЬНОГО НАНОДВИГАТЕЛЯ СТМ
+
Работа № 4. ИЗМЕРЕНИЕ НАНОРЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТЕЙ НАНОМАТЕРИАЛОВ С ПОМОЩЬЮ СТМ
+
Данный блок поддерживает скрол*