Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Методы электронной микроскопии
3. Сканирующая электронная (растровая) микроскопия
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Методы электронной микроскопии
Введение
1. Физические принципы работы электронной микроскопии. Взаимодействие электронного пучка с веществом
+
2. Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)
+
3. Сканирующая электронная (растровая) микроскопия
-
Введение
3.1 Физические принципы работы СЭМ
3.2 Глубина проникновения электронов в твердое тело
3.3 Формирование изображения в сканирующей электронной микроскопии
3.4 Контраст изображения во вторичных электронах
3.5 Контраст изображения в отраженных электронах
3.6 Кристаллографический и магнитный типы контрастов
3.7 Экспериментальное оборудование
Приложение
Список литературы
Данный блок поддерживает скрол*