Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
2. Получение изображения кристалла рентгено-дифракционным методом (профиль дифрагированного пучка как изображение объекта)
Поставить закладку
2.1. Разрешающая способность методов РДМ
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 2 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Введение
1. Основы динамической теории рассеяния рентгеновских лучей
+
2. Получение изображения кристалла рентгено-дифракционным методом (профиль дифрагированного пучка как изображение объекта)
-
2.1. Разрешающая способность методов РДМ
2.2. Изучение субструктуры кристаллов
3. Контраст на рентгеновских топограммах
+
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*