Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
1. Основы динамической теории рассеяния рентгеновских лучей
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Введение
1. Основы динамической теории рассеяния рентгеновских лучей
-
1.1. Волновые поля в кристаллах
1.2. Дисперсионное пространство и геометрия дифракции
1.3. Учет граничных условий
1.4. Учет поглощения в динамической теории
1.5. Уравнения Такаги - Топэна
2. Получение изображения кристалла рентгено-дифракционным методом (профиль дифрагированного пучка как изображение объекта)
+
3. Контраст на рентгеновских топограммах
+
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*