Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
Введение
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Введение
1. Основы динамической теории рассеяния рентгеновских лучей
+
2. Получение изображения кристалла рентгено-дифракционным методом (профиль дифрагированного пучка как изображение объекта)
+
3. Контраст на рентгеновских топограммах
+
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*