Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции нано-индустрии
Раздел 3. Методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Предисловие Г.И. Элькин, В.Н. Крутиков, Г.В. Панкина
Введение Г.И. Элькин, В.Н. Крутиков
Раздел 1. Обеспечение единства измерений в Российской Федерации
+
Раздел 2. Обеспечение единства измерений в сфере нанотехнологий, наноматериалов и продукции наноиндустрии
+
Раздел 3. Методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии
-
3.1. Термины, определения и классификация объектов нанотехнологии и продукции наноиндустрии В.Н. Крутиков, В.В. Окрепилов, П.А. Тодуа
3.2. Методы и средства измерений в сфере нанотехнологий В.Н. Крутиков, Ю.М. Золотаревский, А.Ф. Котюк
3.3. Методики и средства измерений линейных размеров в нанометровом диапазоне В.М. Лахов, П.А. Тодуа
3.4. Оптико-спектральные методы характеризации наночастиц А.Д. Левин, Е.М. Рукин
3.5. Метрологическое обеспечение нанотехнологий В.Н. Крутиков, В.М. Лахов, В.С. Иванов, А.Ф. Котюк, Ф.В. Булыгин
3.6. Хроматографические методы анализа и их применение в наноиндустрии В.В. Бражников
Раздел 4. Прикладные вопросы метрологического обеспечения в сфере нанотехнологий и продукции наноиндустрии
+
Заключение
Список основных сокращений
Данный блок поддерживает скрол*