Поиск
Закладки
Озвучить текст Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Нанометрология

ГЛАВА 4. ПОВЕРКА И КАЛИБРОВКА В СФЕРЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ

4.1. Общие сведения
Для продолжения работы требуется Регистрация
На предыдущую страницу

Предыдущая страница

Следующая страница

На следующую страницу
ГЛАВА 4. ПОВЕРКА И КАЛИБРОВКА В СФЕРЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ
На предыдущую главу Предыдущая глава
оглавление
Следующая глава На следующую главу

Оглавление

ГЛАВА 4. ПОВЕРКА И КАЛИБРОВКА В СФЕРЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ-
4.1. Общие сведения
4.2. Рельефные меры для нанометрового диапазона
4.2.1. Классификация тест-объектов
4.2.2. Поверка рельефной меры
4.2.3. Калибровка рельефной меры
4.3. Измерительные растровые электронные микроскопы
4.3.1. Поверка растровых микроскопов
4.3.2. Стандартная калибровка растровых микроскопов
4.3.3. Калибровка растровых микроскопов по двум координатам
4.4. Атомно-силовые измерительные зондовые микроскопы
4.4.1. Поверка атомно-силовых микроскопов
4.4.2. Калибровка атомно-силовых микроскопов
4.4.3. Калибровка атомно-силовых микроскопов по трем координатам
4.5. Обеспечение единства измерений в лазерной технике, спектроскопии и хроматографии
4.5.1. Обеспечение единства измерений параметров лазерного излучения
4.5.2. Поверка и калибровка спектрометров
4.5.3. Поверка газовых хроматографов
4.5.4. Поверка жидкостных хроматографов
4.5.5. Контроль качества приготовления проб для химического анализа
Данный блок поддерживает скрол*