Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии
Раздел 3. Методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Предисловие Г.И. Элькин, В.Н. Крутиков, Г.В. Панкина
Введение Г.И. Элькин, В.Н. Крутиков
Раздел 1. Обеспечение единства измерений в Российской Федерации
+
Раздел 2. Обеспечение единства измерений в сфере нанотехнологий, наноматериалов и продукции наноиндустрии
+
Раздел 3. Методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии
-
3.1. Термины, определения и классификация объектов нанотехнологии и продукции наноиндустрии В.Н. Крутиков, В.В. Окрепилов, П.А. Тодуа
3.2. Методы и средства измерений в сфере нанотехнологий В.Н. Крутиков, Ю.М. Золотаревский, А.Ф. Котюк
3.3. Методики и средства измерений линейных размеров в нанометровом диапазоне В.М. Лахов, П.А. Тодуа
3.4. Оптико-спектральные методы характеризации наночастиц А.Д. Левин, Е.М. Рукин
3.5. Метрологическое обеспечение нанотехнологий В.Н. Крутиков, В.М. Лахов, В.С. Иванов, А.Ф. Котюк, Ф.В. Булыгин
3.6. Хроматографические методы анализа и их применение в наноиндустрии В.В. Бражников
Данный блок поддерживает скрол*