Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Физические методы исследования тугоплавких неметаллических и силикатных материалов
Глава 5. ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Поставить закладку
5.1. Теоретические основы метода
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 2 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
ПРЕДИСЛОВИЕ
Глава 1. ТЕРМИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ
+
Глава 2. РЕНТГЕНОВСКИЕ МЕТОДЫ
+
Глава 3. ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ
Глава 4. НЕЙТРОНОГРАФИЯ
+
Глава 5. ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
-
5.1. Теоретические основы метода
5.2. Электронные микроскопы, их типы и принцип работы
5.3. Прямые и косвенные методы исследования. Подготовка препаратов
5.4. Методы электронной микроскопии
5.4.1. Светлопольный метод
5.4.2. Темнопольный метод
5.4.3. Метод микродифракции
5.4.4. Метод муара
5.4.5. Метод декорирования
5.4.6. Стереоскопический метод
5.5. Изучение глинистых минералов с помощью электронной микроскопии
5.6. Вопросы для самопроверки
Глава 6. ИНФРАКРАСНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ (ИКС)
+
Глава 7. МЕТОДЫ, ОСНОВАННЫЕ НА МАГНИТНОМ РЕЗОНАНСЕ
+
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
ПРИЛОЖЕНИЯ
+
Данный блок поддерживает скрол*