Поиск
Закладки
Озвучить текст Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Функциональные наноматериалы

Глава 5. Методы исследования веществ в нанокристаллическом состоянии

5.1. Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ)
Для продолжения работы требуется Регистрация
На предыдущую страницу

Предыдущая страница

Следующая страница

На следующую страницу
Глава 5. Методы исследования веществ в нанокристаллическом состоянии
На предыдущую главу Предыдущая глава
оглавление
Следующая глава На следующую главу

Оглавление

Глава 5. Методы исследования веществ в нанокристаллическом состоянии-
5.1. Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ)
5.1.1. Сканирующая туннельная микроскопия
5.1.2. Атомно-силовая микроскопия
5.2. Автоионная микроскопия (АИМ)
5.3. Методы электронной микроскопии
5.3.1. Формирование изображения
5.3.2. Возможности электронной микроскопии
5.4. Спектроскопические методы
5.4.1. Радиоспектроскопия
5.4.1.1. Микроволновая спектроскопия
5.4.1.2. Ядерный магнитный резонанс (ЯМР)
5.4.1.3. Электронный парамагнитный резонанс (ЭПР)
5.4.2. ИК и КР-спектроскопия
5.4.3. Рентгеновская и фотоэлектронная спектроскопия
5.4.3.1. Рентгеновская спектроскопия поглощения (EXAFS, XANES)
5.4.3.2. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС)
5.4.3.3. Рентгенофлуоресцентная спектроскопия
5.4.4. Мессбауэровская спектроскопия
5.5. Дифракционные методы исследования
5.5.1. Основы теории дифракции
5.5.2. Дифракция на кристаллических решетках
5.5.3. Дифракция в аморфных веществах
5.5.4. Размерные эффекты в дифракционных картинах наноструктур
5.5.5. Характеризация функциональных свойств наносистем дифракционными методами
Данный блок поддерживает скрол*