Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ.
Глава 5. XAFS спектроскопия для структурного анализа
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
От редактора
Предисловие
Сокращения
Введение
Глава 1. Кое-что о рентгеноструктурном анализе, электромагнитном излучении, рентгеновских лучах, их свойствах и дифракции
+
Глава 2. Что такое синхротронное излучение?
+
Глава 3. Оборудование каналов СИ и экспериментальные станции
+
Глава 4. Рентгеноструктурный анализ на СИ
+
Глава 5. XAFS спектроскопия для структурного анализа
-
5.1. Принципы XAFS спектроскопии
5.2. Флуктуации спектра поглощения и нормализованная функция XAFS
5.3. Причины возникновения XAFS и основы теории
5.4. Методы измерения XAFS
5.5. Схемы измерения в XAFS спектроскопии
5.6. Измерение EXAFS в особых и экстремальных условиях
5.7. Планирование и проведение экспериментов
5.8. Первичная обработка экспериментальных данных
5.9. Получение структурных данных из спектров EXAFS
5.10. Предварительный анализ экспериментальных данных
5.11. Определение структурных параметров
5.12. Околопороговая тонкая структура спектра поглощения
5.13. Тонкая структура аномальной дифракции рентгеновских лучей (DAFS)
5.14. Применения спектроскопии XAFS
5.15. Примеры применения метода DAFS
5.16. Компьютерные программы для анализа XAFS
5.17. Центры развития и применения метода спектроскопии XAFS
Глава 6. Некоторые полезные формулы, таблицы и графики
+
Предметный указатель
Данный блок поддерживает скрол*