Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Теория тестирования логических устройств
Глава 3. Инверсные неисправности
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Оглавление
Предисловие редактора
Предисловие
I. Сложность тестов для к-значных логических устройств
+
Глава 1. Константные неисправности
+
Глава 2. Неисправности типа слипания
+
Глава 3. Инверсные неисправности
-
3.1. Результаты
3.2. Верхняя оценка для L(n, F2n)
3.3. Нижние оценки для L(n, F2n)
3.4. Подкласс F2n(1)
Глава 4. Разнотипные неисправности
+
II. Сложность контроля логических схем типа Поста
+
Глава 5. Асимптотика функцийШеннона для классов Поста
+
Глава 6. Сложность минимальных тестов для почти всех функцийиз классов Поста
+
Глава 7. О сложности минимальных тестов для классов Поста
+
Глава 8. Алгоритмы построения минимальных тестов для классов Поста
+
Глава 9. Заключение
Список литературы
Данный блок поддерживает скрол*