2.1 УЧЕТ ВОЗДЕЙСТВИЯ НИЗКИХ ТЕМПЕРАТУР И ПРОНИКАЮЩЕЙ РАДИАЦИИ НА ХАРАКТЕРИСТИКИ BIT И JFET ПРИ СХЕМОТЕХНИЧЕСКОМ МОДЕЛИРОВАНИИ [65, 66]
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf. Вам доступно 8 стр. из этой главы.