Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Основы нанотехнологии
Глава 5. Методы исследования вещества в наноразмерном состоянии
Поставить закладку
5.1. Проблемы метрологии в наномире
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 17 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Предисловие
Введение
Глава 1. Общие представления о нанотехнологии
+
Глава 2. Концептуальные проблемы нанотехнологии
+
Глава 3. Самоорганизация и синергетика в наномире
+
Глава 4. Специфические особенности и проблемы наномира
+
Глава 5. Методы исследования вещества в наноразмерном состоянии
-
5.1. Проблемы метрологии в наномире
5.2. Автоионный микроскоп
5.3. Рентгеновская микроскопия
5.4. Просвечивающая электронная микроскопия
5.5. Растровая электронная микроскопия. Общие представления
5.6. Механизмы формирования контраста в РЭМ
5.7. Электронная оже-спектроскопия
5.8. Рентгеновский микроанализ
5.9. Рентгеноструктурный анализ
5.10. Сканирующая туннельно-зондовая и атомно-силовая микроскопия
5.11. Микроскопия ближнего поля
Контрольные вопросы к главе 5
Цитируемая литература
Дополнительная литература
Данный блок поддерживает скрол*