Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Сверхтвердые материалы : рентгенографические, электронно- микроскопические и дериватографические методы исследования сверхтвердых материалов
2. Прецизионное определение праметров решетки сверхтвердых материалов
/
/
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Предисловие
1. Исследование структуры и фазового состава сверхтвердых материалов
+
2. Прецизионное определение праметров решетки сверхтвердых материалов
3. Определение размеров областей когерентного рассеяния и микронапряжений
4. Электронно-микроскопическое исследование алмазных микропорошков
+
5. Рентгенографический контроль поликристаллов на основе плотных модификаций нитрида бора
6. Метод дериватографического анализа и расшифровка дериватограмм
+
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*