Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур: ионная имплантация
2. Расчет кривых дифракционного отражения на основе динамической теории
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Введение
1. Изменения структуры кристаллической решетки вследствие ионной имплантации
+
2. Расчет кривых дифракционного отражения на основе динамической теории
-
2.1. Основные положения динамической теории рассеяния
2.2. Влияние дефектов на дифракцию
2.3. Уравнения Такаги-Топэна
2.4. Расчет кривой дифракционного отражения на основе уравнений Такаги-Топэна
2.5. Полукинематическое приближение
2.6. Метод восстановления профиля деформации
2.7. Генетический алгоритм
3. Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения
+
4. Пример применения дифрактометра высокого разрешения для исследования структуры ионоимплантированных слоев
+
Заключение
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*