Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов
6. Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
Поставить закладку
6.1. Оптическая схема растрового электронного микроскопа и рентгеновского микроанализатора
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 3 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Введение
1. Основы кристаллографии и кристаллохимии
+
2. Дифракция рентгеновского излучения на кристаллах. Кинематическая теория рассеяния
+
3. Основные методы рентгеноструктурного анализа и их применение для анализа наночастиц и наноматериалов
+
4. Основы электроно- и нейтронографии
+
5. Просвечивающая электронная микроскопия
+
5.2. Контраст электронно-микроскопического изображения. Исследование гетерогенных сплавов и дефектов решетки
6. Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
-
6.1. Оптическая схема растрового электронного микроскопа и рентгеновского микроанализатора
6.2. Получение изображения в электронном и характеристическом рентгеновском излучении
6.3. Качественный и количественный анализ химического состава материалов методом рентгеноспектрального микроанализа
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*