Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов
5.2. Контраст электронно-микроскопического изображения. Исследование гетерогенных сплавов и дефектов решетки
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Введение
1. Основы кристаллографии и кристаллохимии
+
2. Дифракция рентгеновского излучения на кристаллах. Кинематическая теория рассеяния
+
3. Основные методы рентгеноструктурного анализа и их применение для анализа наночастиц и наноматериалов
+
4. Основы электроно- и нейтронографии
+
5. Просвечивающая электронная микроскопия
+
5.2. Контраст электронно-микроскопического изображения. Исследование гетерогенных сплавов и дефектов решетки
6. Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
+
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*