Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов
3. Основные методы рентгеноструктурного анализа и их применение для анализа наночастиц и наноматериалов
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Введение
1. Основы кристаллографии и кристаллохимии
+
2. Дифракция рентгеновского излучения на кристаллах. Кинематическая теория рассеяния
+
3. Основные методы рентгеноструктурного анализа и их применение для анализа наночастиц и наноматериалов
-
3.1. Методы и приборы для регистрации рентгенограмм. Классификация методов рентгеноструктурного анализа
3.2. Метод поликристалла. Принципы определения кристаллической структуры по рентгенограмме поликристалла. Прецизионное определение периодов решетки
3.3. Фазовый качественный и количественный анализ. Анализ твердых растворов. Построение диаграмм состояния
3.4. Изучение степени совершенства структуры зерен в поликристаллах по уширению дифракционных максимумов. Оценка размеров частиц в наноматериалах
3.5. Анализ текстур. Прямые и обратные полюсные фигуры
4. Основы электроно- и нейтронографии
+
5. Просвечивающая электронная микроскопия
+
5.2. Контраст электронно-микроскопического изображения. Исследование гетерогенных сплавов и дефектов решетки
6. Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
+
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*