Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов
2. Дифракция рентгеновского излучения на кристаллах. Кинематическая теория рассеяния
Поставить закладку
2.1. Природа рентгеновского излучения. Основной закон ослабления рентгеновских лучей
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 3 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Введение
1. Основы кристаллографии и кристаллохимии
+
2. Дифракция рентгеновского излучения на кристаллах. Кинематическая теория рассеяния
-
2.1. Природа рентгеновского излучения. Основной закон ослабления рентгеновских лучей
2.2. Обратная решетка. Кинематическая теория рассеяния рентгеновских лучей кристаллом. Условия Лауэ и уравнение Вульфа - Брэгга
2.3. Рассеяние рентгеновских лучей электроном, атомом, элементарной ячейкой и кристаллом. Структурная амплитуда, законы погасания. Интегральная интенсивность отражений
3. Основные методы рентгеноструктурного анализа и их применение для анализа наночастиц и наноматериалов
+
4. Основы электроно- и нейтронографии
+
5. Просвечивающая электронная микроскопия
+
5.2. Контраст электронно-микроскопического изображения. Исследование гетерогенных сплавов и дефектов решетки
6. Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
+
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*