Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии
1. ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ СВЕДЕНИЯ
Поставить закладку
1.1. Основные определения
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 20 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Введение
1. ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ СВЕДЕНИЯ
-
1.1. Основные определения
1.2. Уравнения Максвелла в проводящей среде
1.3. Спектральная зависимость коэффициента поглощения
1.4. Спектральная зависимость коэффициента отражения
1.5. Определение и и А: из отражения и прозрачности
1.6. Экспериментальные методики
1.7. Определение и и А; на основании интерференционных полос
2. ПРИНЦИП РАБОТЫ ФУРЬЕ-СПЕКТРОМЕТРА
+
3. ФУРЬЕ СПЕКТРОМЕТР NICOLET 6700 И МЕТОДИКА ИЗМЕРЕНИЙ
+
Список литературы
Данный блок поддерживает скрол*