Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Основы теории надежности
15. Построение легкотестируемых схем
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Принятые сокращения и обозначения
Введение
1. Показатели и пути обеспечения надежности средств вычислительной техники
2. Математический аппарат и модели надежности
3. Расчет и оценка показателей надежности нерезервированных невосстанавливаемых объектов
4. Показатели надежности восстанавливаемых объектов
5. Анализ надежности невосстанавливаемых многоэлементных систем
6. Анализ надежности систем со сложной структурой
7. Оперативный аппаратный контроль ВС
8. Задачи и виды технической диагностики
9. Организация диагностирования вычислительных систем на макроуровне
10. Организация диагностирования цифровых устройств на уровне функциональных модулей
11. Сигнатурный анализ
12. Алгоритмы диагностирования
13. Повышение тестопригодноси СВТ
14. Построение самопроверяемых СВТ
15. Построение легкотестируемых схем
Контрольные вопросы
Список литературы
Данный блок поддерживает скрол*