Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Основы теории надежности
13. Повышение тестопригодноси СВТ
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Принятые сокращения и обозначения
Введение
1. Показатели и пути обеспечения надежности средств вычислительной техники
+
2. Математический аппарат и модели надежности
+
3. Расчет и оценка показателей надежности нерезервированных невосстанавливаемых объектов
+
4. Показатели надежности восстанавливаемых объектов
+
5. Анализ надежности невосстанавливаемых многоэлементных систем
+
6. Анализ надежности систем со сложной структурой
+
7. Оперативный аппаратный контроль ВС
+
8. Задачи и виды технической диагностики
+
9. Организация диагностирования вычислительных систем на макроуровне
+
10. Организация диагностирования цифровых устройств на уровне функциональных модулей
+
11. Сигнатурный анализ
+
12. Алгоритмы диагностирования
+
13. Повышение тестопригодноси СВТ
-
13.1. Общие принципы повышения контролепригодности и тестопригодности СВТ
13.2. Метод сканирования
13.3. Разновидности метода сканирования
13.4. Повышение диагностируемости ВС на структурном уровне
13.5. Конденсация графа управляемости / наблюдаемости и выделение МСС-подграфов
14. Построение самопроверяемых СВТ
+
15. Построение легкотестируемых схем
+
Контрольные вопросы
Список литературы
Данный блок поддерживает скрол*