Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
Словарь наиболее часто используемых аббревиатур
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Предисловие
Словарь наиболее часто используемых аббревиатур
Глава 1. Основы растровой электронной микроскопии
1. Введение
+
2. Устройство растровых электронных микроскопов
+
3. Подготовка образцов
+
Глава 2. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ) и примеры исследования материалов
+
Глава 3. Рентгеновский микроанализ в наноматериалах
+
Глава 4. Низкокиловольтная растровая электронная микроскопия
+
Глава 5. Электронно-лучевая нанолитография в растровом электронном микроскопе
+
Глава 6. Просвечивающая растровая электронная микроскопия для исследования наноструктур
+
Глава 7. Введение в наноманипулирование in situ для конструирования наноматериалов
+
Глава 8. Применение фокусированного ионного пучка и двухлучевых систем DualBeam для изготовления наноструктур
+
Глава 9. Нанопроволоки и углеродные нанотрубки
+
Глава 10. Фотонные кристаллы и устройства
+
Глава 11. Наночастицы и коллоидные самосборки
+
Глава 12. Наноблоки, изготовленные посредством темплатов
+
Глава 13. Одномерные полупроводниковые структуры с кристаллической решеткой типа вюрцита
+
Глава 14. Бионаноматериалы
+
Глава 15. Низкотемпературные стадии в наноструктурных исследованиях
+
Литература
Предметный указатель
Данный блок поддерживает скрол*