Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Нанотехнологии и микромеханика: Учеб. пособие. - Ч. 4: Зондовые нанотехнологии
1. Сканирующий туннельный микроскоп
Поставить закладку
1.1. Теоретические основы сканирующей туннельной микроскопии
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 4 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Введение
1. Сканирующий туннельный микроскоп
-
1.1. Теоретические основы сканирующей туннельной микроскопии
1.2. Режимы профилометрии сканирующего туннельного микроскопа
1.3. Режимы измерения электрофизических свойств образца
1.4. Состав, конструкция и работа сканирующего туннельного микроскопа
1.5. Области применения сканирующего туннельного микроскопа
1.6. Атомно-силовой микроскоп
2. Явления под зондами сканирующего туннельного микроскопа и атомно-силового микроскопа
3. Зондовые нанотехнологии
+
4. Нанотрубки в зондовой нанодиагностике
Список литературы
Данный блок поддерживает скрол*