Метризация топологических пространств
АвторыКлимов Г.П., Матвеев В.Ф.
ИздательствоМГУ им. Ломоносова
Год издания2015
Предлагаемый учебник относится к областям: теория вероятностей и математическая статистика, случайные процессы, топология. Учебник содержит достаточно полное многообразие изучаемых (используемых) пространств: топологические, линейные, мультинормированные, локально выпуклые, счетно - нормированные, F - пространства. Представлены определяемые на пространствах классы функционалов и случайных процессов, изложены методы метризации и сходимости при дополнительных условиях: линейности и/или выпуклости и/или рандомизации. Приложение содержит краткий и полный учебный (справочный) курс ¾Топологические пространства¿ в доступной для начинающих форме. Дополнительно рассмотрены специальные вероятностные конструкции, востребованные новыми моделями. ...
Загружено
2019-04-15