Физика твердого тела и полупроводников. Определение времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости
АвторыР.П. Дикарева, С.П. Хабаров
ИздательствоНовосибирский ГТУ
Год издания2011
Дано краткое описание способа измерения времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости точечного контакта. Измерения проводятся на образцах германия и кремния. В работе рассмотрен вопрос о времени жизни неосновных носителей заряда и изложена теория механизма рекомбинации через локальные центры захвата. Приведены краткие теоретические сведения о неравновесных процессах в полупроводниковых материалах, дано описание лабораторной установки, изложена методика проведения эксперимента и обработки экспериментальных данных, указаны требования к отчету. В конце описания лабораторной работы приведены контрольные вопросы для самоподготовки студентов и список рекомендованной литературы. ...
Загружено
2017-12-11