**Данные блоки поддерживают скрол
**Данные блоки поддерживают скрол вверх/вниз
МИСиС (11.00.00 Электроника, радиотехника и системы связи)
Расчет частоты и вероятности возникновения одиночных сбоев в БИС
АвторыТаперо К.И.
ИздательствоМИСиС
Год издания2006
Излагаются вопросы, связанные с решением задач, необходимых для выполнения курсовой работы "Расчет частоты и вероятности возникновения одиночных сбоев в БИС" по дисциплине "Основы радиационной стойкости изделий электронной техники космического применения". <br>Методические указания содержат теоретические сведения, постановку задачи и исходные данные для курсовой работы, способы решения поставленных задач. Кроме того, приведен пример выполнения всех необходимых расчетов. <br>Предполагается, что выполнение курсовой работы будет проводиться студентами с использованием ЭВМ. При этом возможно использование любых программных средств. Одним из наиболее оптимальных вариантов представляется использование для решения поставленных задач среды Mathcad. <br>Предназначены для студентов, обучающихся по специальности 210104 "Микроэлектроника и твердотельная электроника". ...
Загружено
2019-11-01
Полупроводниковые оптоэлектронные приборы
АвторыЮрчук С.Ю., Диденко С.И., Кольцов Г.И.
ИздательствоМИСиС
Год издания2006
Лабораторный практикум включает описание принципов работы основных оптоэлектронных полупроводниковых приборов: фоторезисторов, фотодиодов, фототранзисторов, оптронов и др. Представлены схемы измерения и методики расчета основных параметров и характеристик оптоэлектронных приборов. Для усвоения предлагаемого материала необходимо иметь базовые знания по курсам "Физика твердого тела", "Физика полупроводниковых приборов", "Квантовая и оптическая электроника". Предназначен для студентов специальности 210104 (2001) "Микроэлектроника и твердотельная электроника" (специализация "Физика и технология интегральных микросхем и полупроводниковых приборов"). ...
Загружено
2017-08-29
Технология материалов электронной техники. Атомно- молекулярные процессы кристаллизации
АвторыКузнецов Г.Д.
ИздательствоМИСиС
Год издания2006
Рассматриваются теоретические вопросы процессов роста объемных монокристаллов и пленок на атомно-молекулярном уровне. Анализируются существующие представления о механизме формирования кристалла с учетом начальных стадий его зарождения. Обсуждаются и анализируются особенности кристаллизации при различной движущей силе процесса. Описаны особенности молекулярно-лучевой эпитаксии. По большинству рассматриваемых разделов приводятся примеры расчетов параметров процесса кристаллизации. Для студентов обучающихся по направлениям 210100 "Электроника и микроэлектроника", 658300 "Нанотехнология", 150702 "Физика металлов" и специальностям 210104 "Микроэлектроника и твердотельная микроэлектроника" и 202100 "Нанотехнология в электронике". ...
Загружено
2017-08-25
Расчеты параметров взаимодействия ускоренных ионов с твердым телом
АвторыКузнецов Г.Д.
ИздательствоМИСиС
Год издания2005
В данном пособии приводятся расчеты взаимодействия ускоренных ионов с твердым телом. Обсуждаются закономерности упругих и неупругих потерь энергии ионом при взаимодействии с атомами и электронами твердого тела материалов электронной техники. Рассматриваются типовые источники ионов, применяемые в технологии электронной техники. Анализируются области проявления таких эффектов взаимодействия, как распыление, дефектообразование и внедрение ионов. <br>По всем рассматриваемым темам приводятся примеры практических расчетов и графические зависимости параметров взаимодействия ионов с полупроводниковыми и металлическими материалами.<br> Пособие соответствует программе курса "Основы высоких технологий".<br> Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 654100 (550700) и специальности 210104 (200100), при выполнении домашних заданий и решении задач на практических занятиях. ...
Загружено
2019-10-27
Полупроводниковые оптоэлектронные приборы
АвторыЮрчук С.Ю., Диденко С.И., Кольцов Г.И., Мартынов В.Н.
ИздательствоМИСиС
Год издания2004
Приведено описание принципов работы основных оптоэлектронных полупроводниковых приборов: фоторезисторов, фотодиодов, фототранзисторов, оптронов и др. Рассмотрены параметры и характеристики оптоэлектронных приборов. Дана классификация как самих приборов, так и их параметров.<br> Курс лекций "Полупроводниковые оптоэлектронные приборы" предназначен для студентов специальности 200100 "Микроэлектроника и твердотельная электроника" (специализация "Физика и технология интегральных микросхем и полупроводниковых приборов") направлений 550700, 654100 "Электроника и микроэлектроника". ...
Загружено
2019-11-01
Экология производства материалов и компонентов электронной техники
АвторыКрапухин В.В., Тимошина Г.Г.
ИздательствоМИСиС
Год издания2004
Настоящий курс рассматривает технику защиты окружающей среды от антропологического воздействия на нее на примере производства материалов и компонентов электронной техники. Курс рассчитан на 34 лекционных часа и включает в себя общую экологическую характеристику производства материалов и компонентов электроники, технику защиты окружающей среды, физико-химические методы очистки сточных вод, улавливание и переработку отходов предприятий электронной промышленности; в приложении приведены различные фильтры, выпускаемые НПП "Фолтер". <br>Курс рассчитан на студентов факультета ПМП, направление "Электроника и микроэлектроника" (654600), специальность "Микроэлектроника и твердотельная электроника" (200100). ...
Загружено
2019-10-27
Технология материалов электронной техники
АвторыКожитов Л.В., Крапухин В.В., Маренкин С.Ф., Тимошина Г.Г.
ИздательствоМИСиС
Год издания2004
Данный лабораторный практикум содержит описание семи лабораторных работ по курсу "Технология материалов электронной техники". Лабораторные работы посвящены исследованию физико-химических свойств материалов, кинетических характеристик процессов водородного восстановления, ионного обмена, очистки, ректификации и зонной перекристаллизации. <br>По ряду процессов составляются математические модели, которые идентифицируются по экспериментальным данным.<br>Соответствует государственному образовательному стандарту дисциплины "Технология материалов электронной техники". <br>Предназначен для студентов третьего и четвертого курсов факультета ПМП, обучающихся по специальностям 200100, 07100, 550700. ...
Загружено
2019-09-23
Метрология, стандартизация и сертификация. Основы метрологии в электронике
АвторыБатавин В.В., Крутогин Д.Г., Курочка С П., Подгорная С.В.
ИздательствоМИСиС
Год издания2004
Курс лекций содержит необходимый для изучения раздела "Основы метрологии в электронике" материал, а также примеры решения задач метрологии и справочные данные.<br> Предназначен для студентов специальностей 200100, 200200, 071000 и направления 550700. ...
Загружено
2019-09-04
Обеспечение надежности электронных компонентов космических аппаратов
АвторыЛадыгин Е.А.
ИздательствоМИСиС
Год издания2003
В учебном пособии изложены основы современных методов обеспечения надежности электронных компонентов космических аппаратов (КА), работающих в специфических условиях длительного воздействия космической радиации.<br> Для основного класса электронных компонентов, широко применяемых в аппаратуре КА - полупроводниковых приборов и микросхем, показана эффективность комплексного использования радиационных воздействий испытательного, отбраковочного и технологического характера для решения проблем обеспечения их надежности и радиационной стойкости. <br>В пособии даны сведения о радиационной обстановке в околоземном космическом пространстве, приведен анализ физических эффектов в приборах и микросхемах при облучении, изложены научно обоснованные рекомендации по оптимизации режимов испытаний, расчету необходимой локальной защиты микросхем, разработке оптимальных вариантов радиационно-термических тренировок и радиационно-термических процессов для улучшения параметров, повышения стойкости приборов и микросхем к радиации, отбраковки приборов со скрытыми дефектами.<br> Содержание пособия соответствует программе курса "Основы лучевой технологии микроэлектроники". <br>Учебное пособие предназначено для студентов специальностей 200100 и 200200 "Микроэлектроника и твердотельная электроника", а также будет полезно при выполнении дипломных и диссертационных работ в области радиационной физики, радиационного материаловедения и технологии приборов и микросхем, применяемых в аппаратуре КА. ...
Загружено
2019-10-27
Расчет мощности и выбор электродвигателей приводов общепромышленных механизмов и прокатных станов
АвторыФединцее В.Е., Маняхин Ф.И.
ИздательствоМИСиС
Год издания2002
Данное пособие соответствует программе курсов "Электрооборудование цехов ОМД" и "Электропривод металлургических машин".<br> В нем приведены краткие сведения о режимах работы электродвигателей по условиям нагрева, цикличности работы и продолжительности включения<br> Приведены формулы для расчета мощности двигателей часто встречающихся производственных механизмов: насосов, вентиляторов, подъемных механизмов, конвейеров, моталок и др. <br>Достаточно подробно рассмотрены методики расчета мощности двигателей реверсивных прокатных станов, листовых станов горячей и холодной прокатки. <br>Основные теоретические положения и инженерные методики для лучшего усвоения иллюстрируются цифровыми примерами. <br>Пособие содержит технические данные электродвигателей, выпускаемых в настоящее время в России или снятых с производства, но используемых в металлургических цехах.<br> Данное пособие предназначено для оказания помощи студентам специальностей 1106 и 1703 при выполнении электротехнической части дипломного проекта и может быть использовано на практических занятиях по электрооборудованию и электроприводу. ...
Загружено
2019-11-01
Методики определения параметров вакуумных систем
АвторыС.Л. Григорович, Г.Д. Кузнецов, С.П. Курочка, И.В. Лобачев, В.А. Никоненко
ИздательствоМИСиС
Год издания2002
Лабораторный практикум выполняется по курсу "Вакуумная техника". В нем рассматриваются методики определения параметров работы форвакуумных насосов, их устройство и режимы их эксплуатации. Описаны устройства для измерения вакуума и определения его параметров. Приводится методика определения параметров вакуумных систем, имеющих различный рабочий объем и межсоединения. Дается методика работы с вакуумметрами различного типа; рассматриваются методики создания высокого вакуума с применением диффузионных насосов и систем безмасляной откачки; анализируются особенности конструкций систем откачки; приводятся методики определения быстроты достижения сверхвысокого вакуума и способы его измерения; дается описание методики определения натекания в вакуумной системе с помощью стандартных систем течеискателей. Предназначен для студентов специальности 200100 и направления 550700. ...
Загружено
2017-08-29
Физические процессы в полупроводниках при облучении быстрыми частицами. Теория и расчет
АвторыЛадыгин Е.А., Лагов П.Б., Мурашев В.Н.
ИздательствоМИСиС
Год издания2001
В пособии кратко изложены современные теоретические представления об образовании первичных дефектов в объеме полупроводника, приведены формулы для расчета основных электрофизических параметров монокристаллических полупроводников при воздействии быстрых частиц и гамма-квантов в широком диапазоне энергий. Цель пособия заключается в приобретении практических навыков выполнения расчета полного числа неравновесных смещений атомов в единице объема полупроводникового монокристалла при облучении различными видами частиц и гамма-квантов надпороговых энергий. Приведены точные значения фундаментальных физических констант, необходимых для расчетов, а также наглядные графические зависимости рассчитываемых параметров от условий облучения для кремния, которые полезно использовать для самопроверки результатов расчета. <br>Пособие предназначено для студентов специальности 200100 "Микроэлектроника и твердотельная электроника", выполняющих курсовые работы по дисциплине "Основы лучевой технологии микроэлектроники", а также пособие будет полезно студентам, аспирантам и специалистам, выполняющим дипломные и научно-исследовательские работы в области радиационной физики, материаловедения, технологии полупроводниковых приборов и интегральных схем. ...
Загружено
2019-10-27
Моделирование полупроводниковых приборов
АвторыЮрчук С.Ю., Мурашев В.Н.
ИздательствоМИСиС
Год издания2001
Данный курс лекций является частью курса "Моделирование технологических процессов". В нем приведены основные уравнения, описывающие работу полупроводниковых приборов, и основные подходы к их решению, применяемые при моделировании; предложены примеры моделирования работы основных полупроводниковых приборов, являющихся элементами интегральных схем; показаны способы упрощения решения базовой системы уравнений для разных приборов. <br>Решение уравнений и численные алгоритмы не рассматриваются, так как этот материал должен прорабатываться на практических занятиях и при выполнении лабораторных работ. <br>Для усвоения предлагаемого материала необходимо иметь базовые знания по курсам "Физика твердого тела", "Физика полупроводниковых приборов и ИС", а также иметь представления об основных численных методах.<br> Предназначен для студентов направления 654100 "Электроника и микроэлектроника" специальности 200100 "Микроэлектроника и твердотельная электроника" (специализация "Физика и технология интегральных микросхем и полупроводниковых приборов"). ...
Загружено
2019-11-01
Электротехника и электроника
АвторыМаняхин Ф.И., Фединцев В.Е.
ИздательствоМИСиС
Год издания2001
Лабораторный практикум содержит краткую инструкцию пользователя программы Electronics Workbench интерактивной работы с виртуальными электрическими и электронными цепями. Он состоит из двух частей, соответствующих разделам учебных планов указанных специальностей "Электротехника" и "Электроника" в которые входят 8 лабораторных работ. Настоящий практикум отличается тем, что позволяет студентам в часы самостоятельной работы получать практические навыки работы с электрическими цепями и электронными схемами, использовать виртуальную программу Electronics Workbench для проверки правильности теоретических расчетов в рамках домашних заданий и курсовых работ. ...
Загружено
2019-10-27
Панель управления
Читайте книги в приложении Консутльтант Студента на iOS, Android или Windows