Справка
x
Настроить шрифт
Версия сайта для слабовидящих
Вход / регистрация
Электронная библиотечная система
Консультант студента
Книги
ru
en
Электронная библиотечная система
Консультант студента
Книги
Вход / регистрация
Профиль
Смена пароля
Доступ
Закладки
Уведомления
Мои списки
Мои отчеты
Получить доступ удалённо
Инструкция пользователя
Выход
Во всей библиотеке
Закрыть
Искать
Везде
По названиям
По авторам
Издательство
Тип издания
Год издания
Издательства
Абрис
Академический Проект
Альпина ПРО
Альпина Бизнес Букс
Альпина нон-фикшн
Альпина Паблишер
Альтаир
АНТЕЛКОМ
АСВ
Аспект-Пресс
АСТ-ПРЕСС КНИГА
Белорусская наука
БИНОМ
Блок-Принт
Брянский ГАУ
ВАКО
ВГУИТ
Вече
ВКН
ВЛАДОС
Время
ВШОУЗ-КМК
Высшая школа экономики
Вышэйшая школа
Галарт
Гангут
Генезис
ГИОРД
Горная книга
Горячая линия - Телеком
Грамота
ГЭОТАР-Медиа
Дашков и К
Дело
Деловой стиль
Директ-Медиа
Директмедиа Паблишинг
Дмитрий Сечин
ДМК-пресс
ДОДЭКА
Зерцало-М
Златоуст
Знак
Ивановская ГСХА
Ивановский ГХТУ
Издательский дом "ГЕНЖЕР"
Издательский дом В. Ема
Институт общегуманитарных исследований
Институт психологии РАН
Интеллект-Центр
Интеллектуальная литература
Интермедиатор
Интермедия
ИНТУИТ
Инфра-Инженерия
Казанский ГМУ
Каро
КГАВМ
Книгодел
Книжный мир
КНИТУ
Когито-Центр
КолосС
Корвет
КТК "Галактика"
КФУ
Лаборатория знаний
Литтерра
Логос
Машиностроение
МГИМО
МГТУ им. Н.Э. Баумана
МГУ им. Ломоносова
Медицина
Международные отношения
Менеджер здравоохранения
Мир и образование
МИСИ - МГСУ
МИСиС
Молодая гвардия
МЭИ
Нижегородский ГАСУ
Новосибирcкий ГУ
Новосибирский ГТУ
Олимпия
Оренбургский ГУ
Оригинал-макет
Перо
Персэ
Политехника
Прогресс-Традиция
Прометей
Просвещение
Проспект
Проспект Науки
Р. Валент
РГ-Пресс
РГГУ
Ремонт и Сервис 21
РИПО
Родники
РУДН
Рукописные памятники Древней Руси
Русистика
Русско-китайское юридическое общество
Русское слово - учебник
РязГМУ
Санкт-Петербургский медико-социальный институт
САФУ
В. Секачев
Секвойя
СибГУТИ
СибГУФК
Сибирское университетское издательство
Синергия
СКИФИЯ
Советский спорт
СОЛОН-Пресс
Социум
Спорт
Ставропольский ГАУ
Статут
Стрелка Пресс
Студия АРДИС
СФУ
ТГАСУ
Текст
Теревинф
Терра-Спорт
Техносфера
Томский ГУ
Точка
Университетская книга
Феникс
Физматлит
Финансы и статистика
Флинта
Химиздат
Хоббитека
Человек
Эксперт-Наука
Юнити-Дана
Юстицинформ
ЮФУ
Языки славянских культур
отметить все
снять все метки
**Данные блоки поддерживают скрол
Типы изданий
автореферат диссертации
адресная/телефонная книга
антология
афиша
биобиблиографический справочник/словарь
биографический справочник/словарь
букварь
документально-художественное издание
задачник
идеографический словарь
инструктивно-методическое издание
инструкция
каталог
каталог аукциона
каталог библиотеки
каталог выставки
каталог товаров и услуг
материалы конференции (съезда, симпозиума)
монография
музейный каталог
научно-художественное издание
научный журнал
номенклатурный каталог
орфографический словарь
орфоэпический словарь
памятка
переводной словарь
песенник
практикум
практическое пособие
практическое руководство
прейскурант
препринт
пролегомены, введение
промышленный каталог
проспект
путеводитель
рабочая тетрадь
разговорник
самоучитель
сборник научных трудов
словарь
справочник
стандарт
тезисы докладов/сообщений научной конференции (съезда, симпозиума)
терминологический словарь
толковый словарь
уставное издание
учебная программа
учебник
учебно-методическое пособие
учебное наглядное пособие
учебное пособие
учебный комплект
хрестоматия
частотный словарь
энциклопедический словарь
энциклопедия
этимологический словарь
языковой словарь
отметить все
снять все метки
**Данные блоки поддерживают скрол вверх/вниз
Авторы
Cперанский Д.В., Скобцов Ю.А., Скобцов В.Ю.
Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств
Издательство
ИНТУИТ
Тип издания
монография
Год издания
2016
Читать online
Скачать приложение
Содержание
3. Лекция 1. Уровни и области моделирования
4. Лекция 2. Модели цифровых устройств
5. Лекция 3. Логическое моделирование
6. Лекция 4. Модели логических элементов
7. Лекция 5. Машинные модели логических схем и управление процессом моделирования
8. Лекция 6. Анализ состязаний
9. Лекция 7. Система многозначных алфавитов и функций
10. Лекция 8. Физические дефекты и неисправности
11. Лекция 9. Константные неисправности
12. Лекция 10. Неконстантные неисправности
13. Лекция 11. Последовательное и параллельное моделирование неисправностей
14. Лекция 12. Дедуктивный метод моделирования неисправностей
15. Лекция 13. Конкурентный и дифференциальный метод моделирования неисправностей
16. Лекция 14. Моделирование неисправностей задержек распространения сигналов
17. Лекция 15. Приближенные методы моделирования неисправностей
18. Лекция 16. Синтез тестов для комбинационных схем
19. Лекция 17. Синтез тестов для заданной неисправности
20. Лекция 18. Многомерная активизация путей в шестизначном алфавите
21. Лекция 19. Методы генерации тестов PODEM, FAN и Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств
22. Лекция 20. Построение тестов с использованием алфавитов большой значности
23. Лекция 21. Выполнимость булевых функций и бинарные диаграммы в построении тестов
24. Лекция 22. Построение тестов для устройств с памятью на основе экспериментов с автоматами
25. Лекция 23. Структурное построение тестов для устройств с памятью
26. Лекция 24. Влияние стратегий наблюдения выходных сигналов на построение тестов для схем с памятью
27. Лекция 25. Эволюционные методы генерации тестов
28. Лекция 26. Методы компактного тестирования
29. Лекция 27. Представление диагностической информации
30. Лекция 28. Словари неисправностей и способы их организации
31. Лекция 29. Сокращение диагностической информации при помощи масок
32. Лекция 30. Оценка эффективности генетических алгоритмов поиска масок
33. Лекция 31. Жадные алгоритмы поиска масок
34. Лекция 32. Жадный алгоритм поиска индивидуальных масок
35. Лекция 33. Экспериментальные результаты апробации жадных алгоритмов
36. Лекция 34. Сокращение диагностической информации с использованием хеш-функций
37. Список литературы
Скопировать биб. запись
Для каталога
Cперанский, Д. В. Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств / Cперанский Д. В. , Скобцов Ю. А. , Скобцов В. Ю. - Москва : Национальный Открытый Университет "ИНТУИТ", 2016. - Текст : электронный // ЭБС "Консультант студента" : [сайт]. - URL : https://www.studentlibrary.ru/book/intuit_152.html (дата обращения: 21.11.2024). - Режим доступа : по подписке.
Аннотация
Целью предлагаемого читателю курса лекций является изложение некоторых разделов теории (и ее приложений), которую в широком смысле можно назвать тестированием цифровой аппаратуры. Более точно, основное внимание будет уделено вопросам генерации тестов, моделированию работы цифровых устройств (ЦУ) и рациональному представлению диагностической информации. Здесь будет дано описание многих понятий, моделей и методов, используемых в упомянутой теории, которые с полным правом можно назвать ставшими классическими. Наряду с ними будут изложены сравнительно недавно возникшие понятия и методы, которые уже подтвердили свою полезность и эффективность.<br>В курсе излагаются алгоритмы и методы логического моделирования исправных и неисправных цифровых устройств, востребованные при решении задач технической диагностики. Описываются методы построения проверяющих и диагностических тестов для комбинационных устройств и устройств с памятью, широко используемые на этапах их проектирования и эксплуатации. Представлены методы обработки результатов тестирования и диагностики устройств, а также сокращения диагностической информации с целью локализации неисправностей.
Загружено
2019-12-31
Оглавление
Оборот титула
3. Лекция 1. Уровни и области моделирования
4. Лекция 2. Модели цифровых устройств
5. Лекция 3. Логическое моделирование
6. Лекция 4. Модели логических элементов
7. Лекция 5. Машинные модели логических схем и управление процессом моделирования
8. Лекция 6. Анализ состязаний
9. Лекция 7. Система многозначных алфавитов и функций
10. Лекция 8. Физические дефекты и неисправности
11. Лекция 9. Константные неисправности
12. Лекция 10. Неконстантные неисправности
13. Лекция 11. Последовательное и параллельное моделирование неисправностей
14. Лекция 12. Дедуктивный метод моделирования неисправностей
15. Лекция 13. Конкурентный и дифференциальный метод моделирования неисправностей
16. Лекция 14. Моделирование неисправностей задержек распространения сигналов
17. Лекция 15. Приближенные методы моделирования неисправностей
18. Лекция 16. Синтез тестов для комбинационных схем
19. Лекция 17. Синтез тестов для заданной неисправности
20. Лекция 18. Многомерная активизация путей в шестизначном алфавите
21. Лекция 19. Методы генерации тестов PODEM, FAN и Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств
22. Лекция 20. Построение тестов с использованием алфавитов большой значности
23. Лекция 21. Выполнимость булевых функций и бинарные диаграммы в построении тестов
24. Лекция 22. Построение тестов для устройств с памятью на основе экспериментов с автоматами
25. Лекция 23. Структурное построение тестов для устройств с памятью
26. Лекция 24. Влияние стратегий наблюдения выходных сигналов на построение тестов для схем с памятью
27. Лекция 25. Эволюционные методы генерации тестов
28. Лекция 26. Методы компактного тестирования
29. Лекция 27. Представление диагностической информации
30. Лекция 28. Словари неисправностей и способы их организации
31. Лекция 29. Сокращение диагностической информации при помощи масок
32. Лекция 30. Оценка эффективности генетических алгоритмов поиска масок
33. Лекция 31. Жадные алгоритмы поиска масок
34. Лекция 32. Жадный алгоритм поиска индивидуальных масок
35. Лекция 33. Экспериментальные результаты апробации жадных алгоритмов
36. Лекция 34. Сокращение диагностической информации с использованием хеш-функций
37. Список литературы