Наноматериалы для радиоэлектронных средств. - Ч. 1: Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов: Методические указания к лабораторным работам по курсу Наноматериалы для радиоэлектронных средств

АвторыМалышев К.В., Скороходов Е.А., Башков В.М.

Наноматериалы для радиоэлектронных средств. - Ч. 1: Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов: Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств"

ИздательствоМГТУ им. Н.Э. Баумана

Тип изданияучебно-методическое пособие

Год издания2007

Читать online Скачать приложение

Содержание

Предисловие

Работа № 1. ИЗМЕРЕНИЕ ЧАСТОТНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПРЕДУСИЛИТЕЛЯ СТМ +

Работа № 2. ИЗМЕРЕНИЕ ЧАСТОТНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ВЫСОКОВОЛЬТНОГО УСИЛИТЕЛЯ СТМ +

Работа № 3. ИЗМЕРЕНИЕ ВРЕМЕННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ИНЕРЦИАЛЬНОГО НАНОДВИГАТЕЛЯ СТМ +

Работа № 4. ИЗМЕРЕНИЕ НАНОРЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТЕЙ НАНОМАТЕРИАЛОВ С ПОМОЩЬЮ СТМ +

Скопировать биб. запись clipboard icon

Для каталогаМалышев, К. В. Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Ч. 1. Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов : Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств" / Малышев К. В. , Скороходов Е. А. , Башков В. М. - Москва : Издательство МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2007. - 44 с. - Текст : электронный // ЭБС "Консультант студента" : [сайт]. - URL : https://www.studentlibrary.ru/book/bauman_0148.html (дата обращения: 05.11.2024). - Режим доступа : по подписке.

АннотацияВ данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. В первой части изучается подготовка СТМ к модификации (диагностике) наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.

Загружено 2015-04-15

Содержание

Оглавление