Поиск

Закладки

Озвучивание недоступно

Озвучить книгу

Изменить режим чтения

Изменить размер шрифта

Оглавление

Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Наноматериалы для радиоэлектронных средств. - Ч. 1: Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов: Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств"

Работа № 4. ИЗМЕРЕНИЕ НАНОРЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТЕЙ НАНОМАТЕРИАЛОВ С ПОМОЩЬЮ СТМ

Предыдущая страница

Следующая страница

Table of contents

Предисловие

Работа № 1. ИЗМЕРЕНИЕ ЧАСТОТНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПРЕДУСИЛИТЕЛЯ СТМ +

Работа № 2. ИЗМЕРЕНИЕ ЧАСТОТНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ВЫСОКОВОЛЬТНОГО УСИЛИТЕЛЯ СТМ +

Работа № 3. ИЗМЕРЕНИЕ ВРЕМЕННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ИНЕРЦИАЛЬНОГО НАНОДВИГАТЕЛЯ СТМ +

Работа № 4. ИЗМЕРЕНИЕ НАНОРЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТЕЙ НАНОМАТЕРИАЛОВ С ПОМОЩЬЮ СТМ -

4.1. Теоретическая часть

4.2. Расчетная часть

4.3. Экспериментальная часть

4.4. Контрольные вопросы

Данный блок поддерживает скрол*