Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур
2. Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения
Поставить закладку
2.1. Двухкристальный рентгеновский спектрометр-дифрактометр (ДРС)
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 3 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Введение
1. Основы динамической теории рассеяния рентгеновских лучей
2. Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения
-
2.1. Двухкристальный рентгеновский спектрометр-дифрактометр (ДРС)
2.2. Трехкристальный рентгеновский спектрометр-дифрактометр (ТРС)
3. Возникновение внутренних напряжений при сопряжении слоев твердых фаз
+
4. Использование дифрактометрии высокого разрешения (ДВР) для измерения деформаций
+
5. Полное внешнее отражение рентгеновских лучей и его использование для диагностики поверхности (рентгеновская рефлектометрия)
+
6. Примеры использования методов дифрактометрии высокого разрешения при изучении структуры приповерхностных слоев
+
Заключение
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*