Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции нано-индустрии
Список основных сокращений
Поставить закладку
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 20 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Предисловие Г.И. Элькин, В.Н. Крутиков, Г.В. Панкина
Введение Г.И. Элькин, В.Н. Крутиков
Раздел 1. Обеспечение единства измерений в Российской Федерации
+
Раздел 2. Обеспечение единства измерений в сфере нанотехнологий, наноматериалов и продукции наноиндустрии
+
Раздел 3. Методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии
+
Раздел 4. Прикладные вопросы метрологического обеспечения в сфере нанотехнологий и продукции наноиндустрии
+
Заключение
Список основных сокращений
Данный блок поддерживает скрол*