Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции нано-индустрии
Раздел 2. Обеспечение единства измерений в сфере нанотехнологий, наноматериалов и продукции наноиндустрии
Поставить закладку
2.1. Основные тенденции развития нанотехнологий за рубежом С.Н. Мазуренко, В.Н. Крутиков
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 26 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Предисловие Г.И. Элькин, В.Н. Крутиков, Г.В. Панкина
Введение Г.И. Элькин, В.Н. Крутиков
Раздел 1. Обеспечение единства измерений в Российской Федерации
+
Раздел 2. Обеспечение единства измерений в сфере нанотехнологий, наноматериалов и продукции наноиндустрии
-
2.1. Основные тенденции развития нанотехнологий за рубежом С.Н. Мазуренко, В.Н. Крутиков
2.2. Основные направления развития нанотехнологий и наноиндустрии в Российской Федерации С.Н. Мазуренко, В.В. Качак, А.Г. Савченко, О.Д. Анашина
2.3. Формирование нанотехнологической сети в Российской Федерации С.Н. Мазуренко, В.В. Качак, А.Г. Савченко, О.Д. Анашина
2.4. Аналитический обзор состояния метрологического обеспечения и стандартизации в области нанотехнологий В.Н. Крутиков, Ю.М. Золотаревский, С.Е. Андрюшечкин
2.5. О "Концепции обеспечения единства измерений, стандартизации, оценки соответствия и безопасности использования нанотехнологий, наноматериалов и продукции наноиндустрии в Российской Федерации до 2015 года" Г.И. Элькин, В.Н. Крутиков, В.М. Лахов, С.А. Кононогов, Ю.М. Золотаревский
2.6. Формирование инфраструктуры Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии В.Н. Крутиков, В.М. Лахов, В.С. Иванов, В.В. Окрепилов, Ю.М. Золотаревский, Ф.В. Булыгин, В.Л. Лясковский, А.С. Гусев
2.7. Метрологический центр "РОСНАНО" В.С. Иванов
Раздел 3. Методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии
+
Раздел 4. Прикладные вопросы метрологического обеспечения в сфере нанотехнологий и продукции наноиндустрии
+
Заключение
Список основных сокращений
Данный блок поддерживает скрол*