Поиск
Закладки
Озвучивание недоступно Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Нанометрология

ГЛАВА 2. ТЕХНИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ

Предыдущая страница

Следующая страница

ГЛАВА 2. ТЕХНИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ
На предыдущую главу Предыдущая глава
оглавление
Следующая глава На следующую главу

Table of contents

ГЛАВА 2. ТЕХНИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ-
2.1. Методы и средства интерференционных измерений
2.2. Использование принципов микроскопии в наноизмерениях
2.2.1. Оптическая микроскопия
2.2.2. Электронная микроскопия
2.3. Сканирующая зондовая микроскопия
2.3.1. Виды сканирующей зондовой микроскопии
2.3.2. Сканирующий туннельный микроскоп
2.3.3. Атомно-силовой микроскоп
2.4. Разновидности ближнепольной микроскопии
2.5. Спектроскопия в нанометрологии
2.5.1. Общие сведения
2.5.2. Атомный спектральный метод
2.5.3. Молекулярные методы спектроскопии
2.5.4. Радиоспектроскопия
2.5.5. Ядерные методы спектроскопии
2.5.6. Электронная спектроскопия
2.5.7. Рентгеноспектроскопия
2.5.8. Лазерная спектроскопия
2.6. Хроматография в наноизмерениях
2.6.1. История и классификация методов хроматографии
2.6.2. Жидкостная хроматография
2.6.3. Газовая хроматография
2.7. Сравнительный анализ технических средств нанометрологии
Данный блок поддерживает скрол*