Поиск
Озвучить текст Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

ГЛАВА 2. МЕТОДЫ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

Электронный микроскоп был создан по аналогии со световым, и в конструкции обоих приборов можно найти принципиально подобные устройства. Основное требование, предъявляемое к электронной микроскопии, заключается в возможности получения более высокого разрешения, чем это возможно при световой микроскопии. Именно поэтому в электронном микроскопе вместо светового потока используется поток электронов. Известно, что разрешение объектива светового микроскопа (возможность различить две соседние точки как отдельные) зависит от длины волны падающего света и связано с ней простой зависимостью: d ~ 0,61λ/n sinα, где d - расстояние между соседними точками (разрешение), λ - длина волны, n - коэффициент преломления среды, α - угол между оптической осью объектива и наиболее далеко отклоняющимся от оптической оси лучом, который еще попадает в объектив (величину nsina называют еще нумерической апертурой объектива). При использовании ультрафиолетового света с наиболее короткой длиной волны теоретически можно получить разрешение, примерно равное 150 нанометрам (нм) (1 нм = 10-9 м). На практике такое разрешение не достигается. При использовании видимой области спектра максимальное разрешение светового микроскопа не превышает 0,2-0,4 микрометра (мкм) (1 мкм = 10-6 м). Разрешение современных лазерных конфокальных микроскопов, которые позволяют проводить наблюдение в условиях очень тонкого оптического среза, т.е. на строго определенной глубине объекта, приближается к теоретическому. В любом случае световой микроскоп может увеличить разрешающую способность глаза не более чем в 1000 раз.

В электронном микроскопе вместо потока света используется поток электронов, длина волны которых много короче длины волны фотонов. Более того, длина волны электронов зависит от их скорости, и при обычно используемых в биологии ускоряющих напряжениях (75-150 кВ) в трансмиссионном электронном микроскопе теоретически можно получить разрешение около 0,002 нм. На практике в лучших моделях электронных микроскопов разрешение достигает величин, примерно равных 0,1 нм, что близко к величине химических связей атомов в молекулах. Однако возможность получения такого большого разрешения требует определенных условий подготовки образца и самой микроскопии. Многолетний опыт электронной микроскопии позволил разработать свои, отличные от световой микроскопии, методические подходы и модификации. Они касаются конструкции микроскопов, условий подготовки образцов, возможности исследовать с большим разрешением поверхность объектов, причем нередко не сами биологические структуры, а их слепки или реплики.

Для продолжения работы требуется Registration
На предыдущую страницу

Предыдущая страница

Следующая страница

На следующую страницу
ГЛАВА 2. МЕТОДЫ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ
На предыдущую главу Предыдущая глава
оглавление
Следующая глава На следующую главу