Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Методы и средства аппаратного обеспечения высокопроизводительных микропроцессорных систем
4. Тестирование и верификация микросхем
Поставить закладку
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 6 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Введение
1. Основные ограничения создания высокопроизводительных микропроцессоров
+
2. Основные радиационные эффекты в микросхемах
+
3. Основные методики повышения надежности микросхем
4. Тестирование и верификация микросхем
-
4.1. Методы функциональной верификации RTL-моделей микропроцессоров
4.2. Метод коверификации микропроцессоров
4.3. Тестирование микропроцессоров
4.4. Методы, применяемые для верификации с использованием специализированных аппаратных устройств
4.5. Валидация кристаллов микросхем
4.6. Метрики тестового (функционального) покрытия, применяемые при верификации моделей
5. Маршрут проектирования микросхем
+
6. Архитектура микропроцессоров
+
7. Организация подсистемы памяти
+
8. Основные архитектуры параллельных ЭВМ
+
9. Компьютерные сети
+
Заключение
Литература
Данный блок поддерживает скрол*