Поиск
Закладки
Озвучить текст Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Космическая электроника. Книга 1.

Глава 17. Методы отбраковки кремниевых микросхем со скрытыми дефектами в процессе серийного производства

17.1. Постановка задачи для случая параметрического контроля интегральных микросхем при номинальных режимах функционирования
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте просмотр в виде pdf. Вам доступно 7 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется Registration
На предыдущую страницу

Предыдущая страница

Следующая страница

На следующую страницу
Глава 17. Методы отбраковки кремниевых микросхем со скрытыми дефектами в процессе серийного производства
На предыдущую главу Предыдущая глава
оглавление
Следующая глава На следующую главу

Table of contents

Глава 17. Методы отбраковки кремниевых микросхем со скрытыми дефектами в процессе серийного производства-
17.1. Постановка задачи для случая параметрического контроля интегральных микросхем при номинальных режимах функционирования
17.2. Методика определения коэффициентов чувствительности выходных параметров биполярных интегральных микросхем
17.3. Выявление микросхем со скрытыми дефектами на основе анализа границ области функционирования
17.4. Оценка численных значений показателей безотказности по результатам экспериментальных исследований интегральных микросхем
17.5. Исследование механизмов влияния скрытых дефектов на численные значения основных статических параметров биполярных ИМС
17.6. Анализ модели математической обработки результатов форсированных испытаний КМОП-микросхем
17.7. Основные методы выявления и отбраковки потенциально ненадежных схем в условиях серийного производства
Литература к главе 17
Данный блок поддерживает скрол*