Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Электрофизические измерения
Глава 11. Электрофизические свойства поверхности и наноразмерных объектов
Поставить закладку
11.1. Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 2 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Предисловие
Глава 1. Общие сведения о метрологии и измерениях
+
Глава 2. Индукционные методы измерения магнитных полей и токов
+
Глава 3. Оптические измерения магнитных полей, токов и магнитных свойств вещества
+
Глава 4. Оптические измерения электрических полей и напряжений
+
Глава 5. Индукционные методы измерения намагниченности
+
Глава 6. Статическая электропроводность
+
Глава 7. Эффект Холла и его применение
+
Глава 8. ВЧ-измерения
+
Глава 9. СВЧ-измерения
+
Глава 10. Параметры пучков заряженных частиц
+
Глава 11. Электрофизические свойства поверхности и наноразмерных объектов
-
11.1. Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия
11.2. Молекулярные проводники
11.3. Магнитные сверхрешетки
11.4. Упражнения
Глава 12. Шумы и помехи в электрофизическом эксперименте. Заземление
+
Глава 13. Экранирование линий связи и устройств
+
Глава 14. Схемотехника помехозащищенных и малошумящих устройств
+
Глава 15. Решения к упражнениям
Список литературы
Предметный указатель
Данный блок поддерживает скрол*