Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ.
Глава 6. Некоторые полезные формулы, таблицы и графики
Поставить закладку
6.1. Введение
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 16 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
От редактора
Предисловие
Сокращения
Введение
Глава 1. Кое-что о рентгеноструктурном анализе, электромагнитном излучении, рентгеновских лучах, их свойствах и дифракции
+
Глава 2. Что такое синхротронное излучение?
+
Глава 3. Оборудование каналов СИ и экспериментальные станции
+
Глава 4. Рентгеноструктурный анализ на СИ
+
Глава 5. XAFS спектроскопия для структурного анализа
+
Глава 6. Некоторые полезные формулы, таблицы и графики
-
6.1. Введение
6.2. Единицы измерения физических величин
6.3. График преобразования Л [Aj-е [кэВ] для фотонов
6.4. Основные физические константы
6.5. Прохождение быстрых электронов через вещество
6.6. Прохождение рентгеновских фотонов через вещество
6.7. Энергетические характеристики пучков и импульсов рентгеновского излучения
6.8. Формулы связи между рассеянием, преломлением и отражением рентгеновских лучей
6.9. Формулы для зеркал полного внешнего отражения
6.10. Многослойные зеркала - монохроматоры на основе МТПС
6.11. Формулы для монокристальных монохроматоров
6.12. Действующие и строящиеся источники СИ рентгеновского диапазона
Список литературы
Предметный указатель
Данный блок поддерживает скрол*