Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
LabVIEW: практикум по электронике и микропроцессорной технике
1. Исследование характеристик полупроводниковых диодов и устройств на их основе
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Предисловие
Введение
1. Исследование характеристик полупроводниковых диодов и устройств на их основе
2. Исследование характеристик тиристора и управляемого выпрямителя
3. Исследование вольтамперной характеристики туннельного диода
4. Исследование характеристик биполярного транзистора
5. Исследование характеристик полевого транзистора
6. Исследование схем на основе операционного усилителя
7. Исследование характеристик аналоговых компараторов напряжения
8. Исследование цифровых систем
Приложение 1. Подготовка лабораторного стенда
Приложение 2. Cреда графического программирования LabVIEW
Приложение 3. Справочные данные некоторых электронных компонентов
Литература
Данный блок поддерживает скрол*