Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур: ионная имплантация
4. Пример применения дифрактометра высокого разрешения для исследования структуры ионоимплантированных слоев
/
/
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Введение
1. Изменения структуры кристаллической решетки вследствие ионной имплантации
+
2. Расчет кривых дифракционного отражения на основе динамической теории
+
3. Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения
+
4. Пример применения дифрактометра высокого разрешения для исследования структуры ионоимплантированных слоев
-
4.1. Исследования кремния, имплантированного бором и прошедшего термообработку
4.2. Примеры использования генетического алгоритма
Заключение
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*