4. Пример применения дифрактометра высокого разрешения для исследования структуры ионоимплантированных слоев

Поставить закладку

4.1. Исследования кремния, имплантированного бором и прошедшего термообработку

Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте просмотр в виде pdf. Вам доступно 20 стр. из этой главы.

Для продолжения работы требуется Registration

Предыдущая страница

Следующая страница

Введение

1. Изменения структуры кристаллической решетки вследствие ионной имплантации +

2. Расчет кривых дифракционного отражения на основе динамической теории +

3. Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения +

4. Пример применения дифрактометра высокого разрешения для исследования структуры ионоимплантированных слоев -

4.1. Исследования кремния, имплантированного бором и прошедшего термообработку

4.2. Примеры использования генетического алгоритма

Заключение

Библиографический список

Данный блок поддерживает скрол*

4. Пример применения дифрактометра высокого разрешения для исследования структуры ионоимплантированных слоев

Table of contents