Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Основы теории надежности
10. Организация диагностирования цифровых устройств на уровне функциональных модулей
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Принятые сокращения и обозначения
Введение
1. Показатели и пути обеспечения надежности средств вычислительной техники
+
2. Математический аппарат и модели надежности
+
3. Расчет и оценка показателей надежности нерезервированных невосстанавливаемых объектов
+
4. Показатели надежности восстанавливаемых объектов
+
5. Анализ надежности невосстанавливаемых многоэлементных систем
+
6. Анализ надежности систем со сложной структурой
+
7. Оперативный аппаратный контроль ВС
+
8. Задачи и виды технической диагностики
+
9. Организация диагностирования вычислительных систем на макроуровне
+
10. Организация диагностирования цифровых устройств на уровне функциональных модулей
-
10.1. Микродиагностика
10.2. Проектирование тестовых микропрограмм
10.3. Декомпозиция последовательностного устройства
10.4. Синтез тестов комбинационных устройств
10.5. Исчерпывающее и псевдослучайное тестирование
11. Сигнатурный анализ
+
12. Алгоритмы диагностирования
+
13. Повышение тестопригодноси СВТ
+
14. Построение самопроверяемых СВТ
+
15. Построение легкотестируемых схем
+
Контрольные вопросы
Список литературы
Данный блок поддерживает скрол*