АвторыЛадыгин Е.А.
Обеспечение надежности электронных компонентов космических аппаратов
ИздательствоМИСиС
Тип изданияучебное пособие
Год издания2003
Скопировать биб. запись
Для каталогаЛадыгин, Е. А. Обеспечение надежности электронных компонентов космических аппаратов : учебное пособие / Ладыгин Е. А. - Москва : МИСиС, 2003. - 111 с. - Текст : электронный // ЭБС "Консультант студента" : [сайт]. - URL : https://www.studentlibrary.ru/book/Misis_156.html (дата обращения: 25.12.2024). - Режим доступа : по подписке.
АннотацияВ учебном пособии изложены основы современных методов обеспечения надежности электронных компонентов космических аппаратов (КА), работающих в специфических условиях длительного воздействия космической радиации.<br> Для основного класса электронных компонентов, широко применяемых в аппаратуре КА - полупроводниковых приборов и микросхем, показана эффективность комплексного использования радиационных воздействий испытательного, отбраковочного и технологического характера для решения проблем обеспечения их надежности и радиационной стойкости. <br>В пособии даны сведения о радиационной обстановке в околоземном космическом пространстве, приведен анализ физических эффектов в приборах и микросхемах при облучении, изложены научно обоснованные рекомендации по оптимизации режимов испытаний, расчету необходимой локальной защиты микросхем, разработке оптимальных вариантов радиационно-термических тренировок и радиационно-термических процессов для улучшения параметров, повышения стойкости приборов и микросхем к радиации, отбраковки приборов со скрытыми дефектами.<br> Содержание пособия соответствует программе курса "Основы лучевой технологии микроэлектроники". <br>Учебное пособие предназначено для студентов специальностей 200100 и 200200 "Микроэлектроника и твердотельная электроника", а также будет полезно при выполнении дипломных и диссертационных работ в области радиационной физики, радиационного материаловедения и технологии приборов и микросхем, применяемых в аппаратуре КА.