Поиск
Закладки
Озвучить текст Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Наноматериалы для радиоэлектронных средств. - Ч. 2: Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа: Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств"

Работа № 7. Измерение шумовых и фрактальных характеристик квазижидких нанослоев с помощью СТМ

7.1. Теоретическая часть
Для продолжения работы требуется Registration
На предыдущую страницу

Предыдущая страница

Следующая страница

На следующую страницу
Работа № 7. Измерение шумовых и фрактальных характеристик квазижидких нанослоев с помощью СТМ
На предыдущую главу Предыдущая глава
оглавление
Следующая глава

Table of contents

Данный блок поддерживает скрол*