Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Методы электронной микроскопии
3. Сканирующая электронная (растровая) микроскопия
Поставить закладку
Введение
3.1 Физические принципы работы СЭМ
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Методы электронной микроскопии
Введение
1. Физические принципы работы электронной микроскопии. Взаимодействие электронного пучка с веществом
+
2. Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)
+
3. Сканирующая электронная (растровая) микроскопия
-
Введение
3.1 Физические принципы работы СЭМ
3.2 Глубина проникновения электронов в твердое тело
3.3 Формирование изображения в сканирующей электронной микроскопии
3.4 Контраст изображения во вторичных электронах
3.5 Контраст изображения в отраженных электронах
3.6 Кристаллографический и магнитный типы контрастов
3.7 Экспериментальное оборудование
Приложение
Список литературы
Данный блок поддерживает скрол*