Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
3. Контраст на рентгеновских топограммах
/
/
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Введение
1. Основы динамической теории рассеяния рентгеновских лучей
+
2. Получение изображения кристалла рентгено-дифракционным методом (профиль дифрагированного пучка как изображение объекта)
+
3. Контраст на рентгеновских топограммах
-
3.1. Проекционные особенности различных методов РДМ, в которых используется лауэвская геометрия съемки
3.2. Контраст на топограммах, снятых в геометрии Лауэ
3.3. Методы, в которых используется брэгговская геометрия
3.4. Контраст на топограммах, обусловленный несовершенствами структуры кристаллов
3.5. Возможности изучения дислокаций методами РДМ в геометрии Лауэ
3.6. Возможности изучения дефектов методами РДМ в геометрии Брэгга
3.7. Применение синхротронных источников рентгеновского излучения
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*